基于缺陷检测的多芯片塑封光耦器件开封方法
作者：马勇1 虞勇坚1,2 解维坤1,2 邹巧云1 张凯虹1 章慧彬1
单位：1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所2. 无锡中微腾芯电子有限公司
塑封光耦器件主要用于电源隔离、信号转换、脉冲放大等领域。基于缺陷检测的需求,保持芯片、键合丝、基板等部位的原始状态是开封技术的重要指标。针对多芯片塑封光耦器件缺陷检测难的问题,为了避免开封对关键缺陷点的损伤,提出了一种多芯片塑封光耦器件的开封方法。利用X射线对器件进行内部结构分析和缺陷定位,通过机械预处理、激光烧蚀、激光微切割及化学腐蚀结合的多元开封技术对器件进行开封,开封后完整保留了器件内部各关键部位的原始状态。利用显微镜对缺陷进行检测,结果表明:发光二极管的键合丝因受到塑封料与导光胶剪切力产生形变缺陷,验证了该开封方法的有效性和可行性,该方法可提高塑封光耦器件缺陷检测的效率和准确性。
DOI：
10.19772/j.cnki.2096-4455.2021.1.002
关键词：
Array
所属期刊栏目：
电子元器件与材料
分类号：
TN206
页码：
3-5
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